[내일배움캠프] 사전캠프 (15일차)

https://anscodus.tistory.com/15

 

어제 하던 kaggle 과제 이어서 진행

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• 새로운 칼럼 생성

기존의 데이터 분석 결과, 정상 그룹과 불량 그룹을 구분짓는 가장 큰 원인으로 압력이 유력함. 따라서 압력이 정상 범위인지 아닌지를 판별하는 파생 변수를 만듦.

(제미나이의 도움을 받았다)

-- 1. 먼저 컬럼을 추가합니다. (이미 추가했다면 에러가 날 수 있으니 무시해도 됩니다.)
ALTER TABLE semiconductor_wafer_defect_dataset ADD COLUMN is_low_pressure INT;

-- 2. 압력이 710 미만인 행에 1을, 아니면 0을 채웁니다.
UPDATE semiconductor_wafer_defect_dataset 
SET is_low_pressure = CASE WHEN pressure_torr < 710 THEN 1 ELSE 0 END;

-- 3. [확인] 데이터가 잘 들어갔는지 10개만 출력해봅니다.
SELECT wafer_id, pressure_torr, is_low_pressure 
FROM semiconductor_wafer_defect_dataset 
LIMIT 10;

 

 

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• 가설 생성

가설 : "공정 종류와 상관없이 압력이 710torr 미만으로 떨어지는 저압 현상은 웨이퍼 불량 발생의 결정적 선행 지표일 것이다."

 

가설 분석 결과 : 데이터 분석 결과, 정상 압력 범위(710torr 이상) 내에서 발생한 불량은 0건인 반면, 전체 불량 건수(7건) 모두 저압 상태에서 발생하였다.

ALTER TABLE semiconductor_wafer_defect_dataset ADD COLUMN is_low_pressure INT;
UPDATE semiconductor_wafer_defect_dataset 
SET is_low_pressure = CASE WHEN pressure_torr < 710 THEN 1 ELSE 0 END;


SELECT 
    CASE WHEN is_low_pressure = 1 THEN '저압 (Hazard)' ELSE '정상압력 (Safe)' END AS pressure_status,
    COUNT(*) AS total_count,
    SUM(defect_label) AS defect_count,
    ROUND(AVG(defect_label) * 100, 2) AS defect_rate_pct
FROM semiconductor_wafer_defect_dataset
GROUP BY is_low_pressure;

 

+)추가설명

ALTER TABLE : 이미 만들어진 테이블의 구조를 변경할 때 사용하는 명령어. 

- 컬럼 추가, 컬럼 삭제, 컬럼 이름 변경, 데이터 타입 변경등을 수행가능

- 테이블 내의 실제 데이터값을 바꾸는 것이 아닌, 데이터가 들어갈 공간의 정의를 바꿈

ALTER TABLE [테이블 명] ADD COLUMN [컬럼명] [데이터타입];

 

ADD COLUMN : 테이블에 새로운 열을 붙이는 구체적인 동작

- INT : 해당 칸에 정수를 넣겠다는 약속. ( 실수 : FLOAT / DECIMAL)

 

UPDATE : 어떤 테이블의 데이터를 수정할 것인가? 를 지정

SET : 어떤 컬럼을 어떤 갓으로 바꿀 것인가? 를 결정

 

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• 추가 분석계획 수립

1. 추가 분석 계획 수립

 표본들간의 데이터 분포를 한눈에 시각적으로 알아보고 싶다.

 

2. 최종 발표 준비